Special Optics

FTIR 特殊光學與光路控制附件Special Optics & Beam Control

Polarizer、Brewster's Angle、RotatIR、顯微載台、變角反射與特殊表面分析相關附件。

Polarizers

Polarizer 偏振鏡

Harrick Wire Grid Polarizer

Harrick Wire Grid Polarizer

KRS-5 wire grid|FastIR / VariGATR

用於控制 FTIR 入射光偏振方向,常搭配薄膜、表面反射、Brewster angle 與 Harrick ATR / 反射平台。

基材KRS-5 wire grid polarizer
常見搭配Seagull、FastIR、VariGATR / GATR、Brewster angle holder
應用偏振控制、薄膜、表面與角度相關量測
PIKE FTIR Polarizers

PIKE FTIR Polarizers

Manual / automated polarizer|VeeMAX / RotatIR

提供手動、精密手動與自動化 polarizer 配置,可搭配變角反射、RotatIR 與其他角度/偏振條件量測。

配置Manual、precision manual、automated
光譜範圍NIR、mid-IR、far-IR 依型號確認
常見搭配VeeMAX、RotatIR、80Spec、AGA
Variable Angle Transmission

變角穿透附件

Harrick Brewster's Angle Sample Holder

Harrick Brewster's Angle Sample Holder

布魯斯特角樣品架|薄膜變角穿透與偏振研究

適合薄膜變角穿透量測、干涉條紋抑制、薄膜厚度與折射率分析,可搭配 polarizer 使用。

型號BXH-S1G
量測模式Brewster angle 或指定角度穿透量測
常見搭配Wire Grid Polarizer、Glan Taylor Polarizer
PIKE RotatIR Sample Stage

PIKE RotatIR Sample Stage

可變角透射樣品台|automated / manual / dual RotatIR

用於可變角透射量測、薄膜去條紋、Brewster angle 搜尋與厚樣品光路補償,可搭配 polarizer 與 AutoPRO。

配置Automated、manual、dual RotatIR
應用變角穿透、薄膜角度效應、偏振條件分析
控制可搭配 AutoPRO 與 motorized control
Microscopy Stage

顯微載台

PIKE S-100R Microscope Heat Stage

PIKE S-100R 顯微加熱載台

Microscope heat stage|FTIR / Raman 小尺寸樣品研究

可放置於多數 FTIR 與 Raman 顯微鏡載台,也可放入光譜儀樣品室進行透射量測,支援真空、惰性氣體或反應氣體環境。

產品型式顯微加熱載台
溫度範圍室溫至 600 °C
相關分類溫控 / in-situ 反應附件
Variable Angle / ATR

變角反射與 ATR 平台

PIKE VeeMAX III variable angle reflectance accessory

PIKE VeeMAX III

變角鏡面反射平台|可擴充 ATR 與偏振控制

VeeMAX III 主要用於鏡面 / 外反射量測;若需求包含變角、偏振或 ATR crystal option,也適合由特殊光學附件一起查找。

主分類鏡面反射 / 外反射附件
適用條件變角、偏振、薄膜、ATR crystal option
應用薄膜、鍍膜、單分子層與表面分析
Harrick VariGATR grazing angle ATR accessory

Harrick VariGATR

Grazing angle ATR|薄膜、晶圓與表面分析

VariGATR 主要屬於 ATR;因具備 grazing angle、薄膜、晶圓與偏振搭配需求,也適合由特殊光學附件一起查找。

主分類ATR 衰減全反射附件
適用條件變角、薄膜、晶圓、偏振搭配
應用SAMs、薄膜、金屬塗層、Si 晶圓