自動化角度序列
- Automated RotatIR 可預先設定角度並自動收集一系列光譜。
- 適合需要比較多個透射角條件的研究與方法開發。
- 可減少逐次手動調整造成的操作差異。
PIKE Technologies / Product Page
PIKE RotatIR Sample Stage可變角透射樣品台
RotatIR 是用於 FTIR 樣品室內的可變角透射樣品台，可手動或自動調整樣品相對於紅外光束的角度；自動版本可透過 AutoPRO 與 motor controller 建立角度序列。
適合薄膜、片狀材料或光學元件在不同入射角下比較穿透光譜，也可搭配 polarizer 發展偏振穿透方法。若樣品較厚，傾角量測時可能產生 beam displacement，則可進一步評估 Dual RotatIR 配置。
光路設計
以旋轉樣品台控制透射入射角，讓角度成為可重複設定的量測條件。
操作方式
Automated / Manual RotatIR 可依自動化需求選擇，Automated 版本可由 AutoPRO 執行角度序列。
應用方向
薄膜角度效應、Brewster angle、偏振穿透、厚光學件變角量測與方法開發。
Product Details
產品重點Automated / Manual RotatIR with Polarizer Mount
RotatIR 的重點是把樣品角度納入可控制的透射量測流程。少量角度測試可考慮手動配置；需要連續角度序列、重複方法或提升量測效率時，則適合自動化配置。
| 量測方式 | 變角透射量測，控制樣品相對 IR beam 的角度 |
| 控制方式 | Manual 或 Automated；Automated 搭配 AutoPRO、Motor Control Unit 與 integrated stepper motor |
| 樣品安裝 | standard 2 x 3 inch slide mount，可搭配不同 transmission sample holders |
| 偏振搭配 | 可搭配 polarizer mount 進行角度與偏振條件量測 |
| 配置方向 | Automated / Manual / Dual RotatIR；實際配置依光譜儀平台與樣品條件確認 |
Use Cases
量測情境變角透射與角度序列
RotatIR 適合需要比較不同透射角、偏振條件或厚光學件角度效應的量測流程。
薄膜與 Brewster angle 搜尋
- 可用於比較不同透射角下的光譜差異，協助觀察薄膜角度效應。
- 若要尋找合適的 Brewster angle，自動化角度序列可提升效率。
- 適合聚合物膜、平行表面薄膜與角度敏感樣品。
偏振穿透量測
- 可與 polarizer mount 結合，觀察角度與偏振條件對光譜的影響。
- 適合方向性材料、薄膜與表面處理樣品。
- 若需要專門的 Brewster angle holder，可另評估 Harrick Brewster's Angle Sample Holder。
厚樣品補償量測
- 較厚光學樣品在傾角透射量測時，可能因折射造成 beam displacement。
- Dual RotatIR 可利用兩片等角度光學件，讓位移後的光束回到較易聚焦的位置。
- 適合對量測準確度與 detector 收光條件要求較高的應用。
Configurations
配置方向依自動化程度與樣品條件選擇
Automated RotatIR with Polarizer Mount
- 適合需要以 AutoPRO 建立方法、儲存角度序列與自動執行量測的使用情境。
- 可減少手動調整角度造成的人為差異，並提升 sample throughput 與重現性。
- 可搭配 polarizer mount 做角度與偏振條件量測。
Manual RotatIR with Polarizer Mount
- 適合希望保留角度可調能力，但不一定需要完整自動化控制的使用者。
- 適合預算與操作彈性並重的導入方式。
- 若量測角度不多，手動配置通常已能滿足基本方法開發。
Dual RotatIR
- 適合較厚光學件的變角透射量測，可改善 beam displacement 造成的光路偏移。
- 若樣品厚度較高，這類配置通常比單片旋轉樣品架更值得優先評估。
- 實際是否需要 Dual 配置，需依樣品厚度、折射率與儀器光路確認。