干涉條紋遮蔽弱吸收峰
- 薄膜透射量測常出現 interference fringes，容易掩蓋弱吸收峰。
- 在 Brewster angle 並搭配 polarizer 使用時，可降低反射造成的條紋影響。
- 適合薄膜、聚合物膜與需要看清楚弱吸收峰的樣品。
Harrick / Product Page
Harrick Brewster's Angle Sample Holder布魯斯特角樣品架
薄膜在透射量測中常因 interference fringes 掩蓋弱吸收峰。Brewster's Angle Sample Holder 可讓薄膜以 Brewster angle 或指定入射角量測，並可搭配 polarizer 觀察角度與偏振條件對光譜的影響。
適合需要抑制 fringes 以判讀弱吸收峰，或藉由變角量測取得條紋資訊，進一步分析 film thickness 與 refractive index 的進階薄膜穿透應用。相較於一般固定式薄膜樣品架，可提供更具彈性的光譜分析條件。
光路設計
可調入射角透射 holder，透過角度盤設定 Brewster angle 或其他入射角。
樣品情境
薄膜、聚合物膜、透明或半透明基板上的膜層，以及 interference fringes 明顯的樣品。
應用方向
干涉條紋抑制、弱吸收峰判讀、film thickness / refractive index 分析與偏振穿透量測。
Product Details
產品重點Brewster's Angle Sample Holder
本附件提供穩定的樣品夾持與可設定的入射角控制。當研究需要在 Brewster angle、其他指定角度或特定偏振條件下比較光譜變化時，可作為傳統固定式 film holder 之外的進階配置。
| 量測方式 | 變角透射量測，可設定 Brewster angle 或其他入射角 |
| 對應樣品 | 薄膜、透明或半透明基板上的膜層、容易產生 interference fringes 的樣品 |
| 偏振搭配 | 可搭配 Harrick Wire Grid Polarizer 或 Glan Taylor Polarizer |
| 適用平台 | FT-IR / UV-Vis 變角透射量測 |
| 標準內容 | sample holder、sample support、slide plate mounting |
Use Cases
量測情境薄膜變角透射與偏振
Brewster's Angle Sample Holder 主要處理的是薄膜透射光譜中的角度、偏振與 interference fringes 問題。
由 fringes 取得膜層資訊
- 薄膜量測中的 fringes 不一定只是干擾，也可能用於 film thickness 與 refractive index 分析。
- 角度可設定後，能比較不同入射角條件下的薄膜訊號變化。
- 適合需要進一步判讀薄膜光學參數的研究與方法開發。
比較角度與偏振條件
- 可在 Brewster angle 或其他指定角度下量測薄膜透射訊號。
- 搭配 polarizer 後，可觀察偏振條件對薄膜光譜的影響。
- 適合需要確認薄膜方向性、表面處理效果或角度依賴訊號的樣品。
Accessories
搭配配件Polarizer
如果量測重點包含 Brewster angle、偏振條件控制或 fringes 抑制，通常會一併確認 polarizer 配置。
Glan Taylor Polarizer
- 可搭配變角量測與偏振條件分析。
- 適合需要更明確區分偏振效應的薄膜研究。
- 實際配置需依光譜範圍與儀器平台確認。
Wire Grid Polarizer
- 可與本樣品架搭配使用，強化偏振條件控制。
- 適合搭配減少 interference fringes、提升弱吸收峰判讀性。
- 實際配置需依光譜範圍與儀器平台確認。
配置確認
- 薄膜材質、基板、厚度與光譜範圍會影響適合的配置。
- 若已知樣品會出現 fringes，可先提供代表性光譜與樣品結構。
- 可依儀器型號與量測目標確認 holder 與 polarizer 搭配方式。