PerkinElmer FTIR/FT-NIR Solutions

PerkinElmerFTIR/FT-NIR解決方案

PerkinElmer FTIR 系列涵蓋研究、教學、材料分析、近紅外量測與顯微分析需求，適合不同層級的實驗室與研究工作。

Current Models

Spectrum Two Spectrum 3 Spectrum Two N Spotlight Microscope FTIR FT-NIR

Model Overview

PerkinElmer 主機解決方案總覽

Spectrum Two 為 PerkinElmer 常用 FTIR 主機，適合研究、教學與日常材料分析。

常規 FTIR 主機｜研究、教學、材料分析常用

Spectrum Two 適合一般實驗室、材料分析與常規樣品測試，是常見的基礎 FTIR 主機選擇。

光譜範圍8300 - 350 cm^-1

解析度0.5 cm^-1

訊號雜訊比最高可達 32,000:1

定位防潮性佳、可攜性高、C/P 值高

型號定位	學術研究、教學實驗室、基礎材料分析與日常 FTIR 量測，以及需要中紅外基礎量測與日常樣品分析的使用者。
產品特色	具備良好防潮性、可攜性與操作便利性，適合日常實驗室使用。

Spectrum 3 為高階 FTIR 平台，具備更完整的波段延伸與系統擴充能力。

高階 FTIR 平台｜Near-IR / Mid-IR / Far-IR 延伸能力

Spectrum 3 適合需要跨波段、串接其他分析模組或持續擴充應用的研究工作。

涵蓋波段	Cover Near-IR、Mid-IR、Far-IR，可延伸 11000 - 30 cm^-1 應用。
光學配置	可同時置入兩種光源、beamsplitter 與 detector，並依需求自動切換。
外部串接	可延伸 GC-IR、TGA-IR、Microscope 等應用平台。
掃描速度	最高可達 100 scan/sec。

Spectrum Two N 為近紅外量測平台，可用於快速辨識與定量分析。

FT-NIR 主機｜快速辨識、定量與製程樣品量測

Spectrum Two N 適合近紅外量測、快速辨識與定量分析需求，方便延伸至 FT-NIR 應用工作。

型號定位	快速辨識、定量分析與常規近紅外量測。
模組選擇	支援 transmission module、reflectance module（NIRM）與 sampling module（RSM）等配置。
玻璃管量測	支援 5 mm、8 mm、12 mm 玻璃管與對應加熱模組。
適合對象	對速度、重複性與樣品處理便利性有需求的 FT-NIR 使用者。

Spotlight Microscope 可對應顯微、微區與表面分析需求。

FT-IR Microscopy｜微區、表面與顯微分析

Spotlight Microscope 適合顯微分析、微區材料與複合樣品表面分析等應用。

訊號雜訊比	可達 40,000:1。
偵測器選項	DTGS、MCT、InGaAs 三種 detector 可選。
量測模式	支援穿透、反射與 Micro ATR。
冷卻配置	一次充填 LN2 可維持約 24 小時。

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因 PerkinElmer 相關品項眾多，如果您有任何特殊需求，可提供相關應用內容，讓我們給予您更適合且有效的建議。