UV-Vis / UV-Vis-NIR PerkinElmer LAMBDA Solutions

UV-VIS 解決方案

提供 UV-Vis / UV-Vis-NIR 主機、搭配附件與量測耗材配置，涵蓋液體吸收、薄膜與鍍膜評估、反射 / 透射量測，以及光學材料分析需求，協助依樣品型態、波段範圍與量測目的規劃合適方案。

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Instrument Solutions

主機解決方案總覽LAMBDA 850+ / 1050+ 作為高階材料分析主平台

若需求涉及高階光電材料、薄膜、鍍膜評估、低穿透率樣品或寬波段反射 / 透射分析，LAMBDA 850+ / 1050+ 會是優先評估的主平台。

PerkinElmer LAMBDA 1050+ UV-Vis/NIR 旗艦級材料分析系統

LAMBDA 850+ / 1050+ UV-Vis/NIR

高階 UV-Vis/NIR 材料分析主平台

此平台適合高階光電材料、玻璃與鍍膜、太陽能材料、顯示器光學膜、低穿透率樣品與寬波段反射 / 透射分析。

三偵測器系統 (PMT/InGaAs/PbS) 雙單光器高線性動態範圍

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波長範圍	175nm - 3300nm 全波段 UV-Vis/NIR
型號定位	高階光電材料、n&k 值計算、鍍膜與薄膜評估
核心光學	雙單光器架構，搭配三偵測器系統
適合樣品	光學玻璃、AR/IR coating、顯示材料、太陽能材料與低穿透率薄膜
偵測器配置	PMT / InGaAs / PbS 三偵測器，對應 UV、Visible 與 NIR 波段切換。
量測能力	反射 / 透射光譜、低穿透率材料、高反射樣品與複雜光學膜層分析。
延伸應用	可搭配積分球、URA、偏振與角度附件，用於薄膜、鍍膜與光學常數研究。

若需要建立高品質光譜資料並進一步計算 n&k 光學常數，或評估反射 / 透射、低穿透率材料與複雜光學膜層分析，LAMBDA 850+ / 1050+ 仍是優先評估的高階配置。

PerkinElmer LAMBDA 465 PDA UV/Vis 光譜儀

LAMBDA 465 (PDA)

Photodiode Array 架構適合快速掃描與高通量 UV-Vis 檢測，對例行定量、反應追蹤、方法建立與教學實驗室特別友善。

型號定位	快速 UV-Vis 檢測
特色	PDA 高速擷取
適合	QA/QC、液體樣品與教學

PerkinElmer LAMBDA 365+ UV/Vis 光譜儀

LAMBDA 365+

定位於穩定、可靠的 Routine UV-Vis 分析平台，適合標準液體樣品、日常吸收光譜、濃度定量與實驗室常規方法。

型號定位	例行 UV-Vis 分析
特色	穩定、易操作、易維護
適合	常規檢測、教學與一般研發

Accessory Pairing

主要耗材與搭配附件

STARNA 石英比色管為 UV-Vis 最主要的液體量測耗材，另外可依研究需求搭配角度反射與偏振控制附件，延伸至薄膜與光學材料分析。

STARNA 石英比色管

STARNA 原廠型錄涵蓋各式 spectrophotometer cells / cuvettes，可依材質透光範圍、光徑長、容量、密封形式與微量需求選擇合適型號，適用於 UV-Vis 常規液體量測、方法建立與特殊規格配置。

標準比色管多種光徑長微量與密封型

Brewster's Angle

Brewster's Angle Holder

可調入射角樣品架，適合薄膜、干涉條紋與角度相關反射 / 透射條件評估。

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Harrick Wire Grid Polarizer

Harrick Wire Grid Polarizer

KRS-5 wire grid polarizer，對應 Seagull、FastIR、VariGATR / GATR 等反射與偏振條件控制。

Harrick Glan-Taylor Polarizer

Harrick Glan-Taylor Polarizer

適用 350 nm 至 2300 nm，可用於偏振條件控制、薄膜量測與 Brewster's Angle 相關配置。

PIKE Polarizer

PIKE Polarizer

適用 NIR、mid-IR 與 far-IR，常搭配 VeeMAX、RotatIR、80Spec 與 AGA 等角度與反射量測附件。