PIKE VeeMAX III
變角反射與 ATR 擴充平台｜薄膜與表面分析
VeeMAX III 可用於變角鏡面反射、ATR 與偏振條件下的 FTIR 表面分析，常見於薄膜、塗層、聚合物表面與單分子層研究。需依樣品尺寸、角度範圍與是否搭配偏振鏡確認配置。
| 品牌 | PIKE Technologies |
| 應用方向 | 變角反射、薄膜、表面分析與 ATR 擴充 |
| 配置確認 | 入射角、偏振、樣品尺寸、主機相容性 |
Harrick Refractor
掠角反射反應腔｜金屬與半導體薄膜高溫分析
Refractor 可用於需要掠角反射與加熱條件的薄膜或表面研究，常見於金屬、半導體基板與溫度相關表面變化分析。需確認溫度範圍、樣品固定方式與基板相容性。
| 品牌 | Harrick Scientific |
| 應用方向 | 高溫掠角反射、薄膜與基板表面分析 |
| 配置確認 | 溫度、基板材質、樣品尺寸與固定方式 |