雙光束設計（Double Beam）
光源經雙全像光柵單色器選光，再由四分區光束切換器（Chopper）依序取得樣品光路（Sample）與參考光路（Reference）訊號；兩者進行比值比較，可補償光源強度波動，提升量測穩定性與可重現性。
光學系統
雙單色器（Double Monochromator）
寬波段光經兩級全像光柵單色器進行兩次波長選擇，逐步排除非目標光；更低的雜散光可支援高吸光度與低透射率樣品量測。
UV WinLab 分析軟體
Scan
光譜掃描、光譜比較與資料處理。
Wavelength Program
於指定波長進行量測與計算，建立單波長或多波長分析方法。
Quant / Scanning Quant
利用指定波長或完整光譜建立校正關係，進行樣品定量分析。
Timedrive / Rate
記錄訊號隨時間的變化，進行反應速率與動力學分析。
Polarization Scan
搭配偏振附件進行偏振光譜量測，用於具方向性與偏振特性的光學材料。
LAMBDA 850+ 原廠量測附件
150 mm Integrating Sphere
150 mm 積分球
進行總穿透、總反射與散射材料量測，適合玻璃、鍍膜與進階光學材料。
General Purpose Optical Bench（GPOB）
通用光學平台
提供大型、特殊形狀或非標準樣品的彈性光路與量測配置。
Directional Relative Reflectance / Transmittance Accessory｜P/N L6310201
方向性相對反射／穿透附件
量測接近法向至斜入射角度下的穿透與相對鏡面反射，用於玻璃、鍍膜與光學材料的角度相關分析。
Absolute Directional VW Specular Reflectance Accessory｜P/N L6310205
方向性 VW 絕對鏡面反射附件
用於高反射率平面材料的絕對反射量測與參考反射鏡校正，並可分別進行 P、S 偏振量測。
Absolute Directional IV Reflectance Accessory｜P/N L6310206
方向性 IV 絕對反射附件
用於反射標準、雷射反射鏡、太陽光學反射材料與分光元件的絕對反射量測。
主要規格
| 項目 | LAMBDA 850+ |
|---|---|
| 光學系統 | Double Beam |
| 單色器 | Double Monochromator |
| 波長範圍 | 175–900 nm |
| 偵測器 | PMT |
| 光譜解析度 | ≤0.05 nm |
| 吸光度量測範圍 | 最高 8 A |
| 分析軟體 | UV WinLab |
應用領域
高吸光度材料
高 Optical Density、低透射率樣品與光學材料分析。
光學濾光片與雷射防護
光學濾光片、雷射防護鏡片與高吸光度光學元件分析。
薄膜與光學鍍膜
薄膜、抗反射鍍膜與其他光學鍍層的透射及反射分析。
玻璃與建築材料
玻璃、建築玻璃與相關材料的總透射、總反射及光學性能分析。
光電與顯示材料
顯示器、光電元件與相關材料的透射、反射及光譜特性分析。
太陽能與能源材料
太陽能與能源材料的 UV/Vis 光學性能分析。