雙光束設計（Double Beam）
光源經雙全像光柵單色器選光，再由四分區光束切換器（Chopper）依序取得樣品光路（Sample）與參考光路（Reference）訊號；兩者進行比值比較，可補償光源強度波動，提升量測穩定性與可重現性。
光學系統
雙單色器（Double Monochromator）
寬波段光經兩級全像光柵單色器進行兩次波長選擇，逐步排除非目標光；更低的雜散光可支援高吸光度與低透射率樣品量測。
原理示意，非 LAMBDA 1050+ 實際內部光路配置。
主機與偵測器配置
2DL6020055
- 整機波長範圍
- 175–3300 nm
雙偵測器配置
光電倍增管（PMT）＋硫化鉛（PbS）
3D WBL6020087
- 砷化銦鎵強化區間
- 900–2500 nm
三偵測器寬波段配置
光電倍增管（PMT）＋寬波段砷化銦鎵（InGaAs）＋硫化鉛（PbS）
3D NBL6020086
- 砷化銦鎵強化區間
- 900–1800 nm
三偵測器窄波段配置
光電倍增管（PMT）＋窄波段砷化銦鎵（InGaAs）＋硫化鉛（PbS）
UV WinLab 分析軟體
光譜掃描（Scan）
光譜掃描、光譜比較與資料處理。
波長程式（Wavelength Program）
於指定波長進行量測與計算，建立單波長或多波長分析方法。
定量／掃描定量（Quant / Scanning Quant）
利用指定波長或完整光譜建立校正關係，進行樣品定量分析。
時間掃描／反應速率（Timedrive / Rate）
記錄訊號隨時間的變化，進行反應速率與動力學分析。
偏振光譜掃描（Polarization Scan）
搭配偏振附件進行偏振光譜量測，用於具方向性與偏振特性的光學材料。
LAMBDA 1050+ 原廠量測附件
通用光學平台（General Purpose Optical Bench，GPOB）
提供大型、特殊形狀或非標準光學元件的彈性光路與量測配置。
P/N L6310201
方向性相對反射／穿透附件（Directional Relative Reflectance / Transmittance Accessory）
量測法向至斜入射角度下的穿透與相對鏡面反射，用於玻璃、鍍膜與光學材料的角度相關分析。
P/N L6310205
方向性 VW 絕對鏡面反射附件（Absolute Directional VW Specular Reflectance Accessory）
用於高反射率平面材料的絕對反射量測與參考反射鏡校正，並可分別進行 P、S 偏振量測。
P/N L6310206
方向性 IV 絕對反射附件（Absolute Directional IV Reflectance Accessory）
用於反射標準、雷射反射鏡、太陽光學反射材料與分光元件的絕對反射量測。
P/N B0505530
雙偏振器驅動單元（Double Polarizer Drive）
安裝於主樣品室，自動控制偏振或去偏振元件方向，用於方向性樣品的偏振光譜、穿透與反射分析。
驅動單元不含偏振／去偏振光學元件，需依量測波段與用途另行配置。
P/N B0501282
共光束去偏振器（Common Beam Depolarizer）
在光束分為樣品與參考光路前進行去偏振，降低儀器偏振偏差對穿透與反射量測的影響；原廠標示波長範圍為 190–2600 nm。
主要規格
| 項目 | LAMBDA 1050+ |
|---|---|
| 光學系統 | 雙光束（Double Beam） |
| 單色器 | 雙單色器（Double Monochromator） |
| 波長範圍 | 175–3300 nm |
| 主機偵測器 | 2D：光電倍增管（PMT）＋硫化鉛（PbS）；3D：光電倍增管（PMT）＋砷化銦鎵（InGaAs）＋硫化鉛（PbS） |
| 取樣空間 | 雙大型取樣區，可依量測需求配置原廠附件 |
| 分析軟體 | UV WinLab |
應用領域
玻璃與建築材料
建築玻璃、汽車玻璃與相關材料的穿透、反射及太陽光學性能分析。
薄膜、鍍膜與光學元件
薄膜、抗反射鍍膜、濾光片、分光元件與鏡片的光譜特性分析。
太陽能與能源材料
太陽能電池、封裝材料與能源材料的紫外、可見光及近紅外分析。
光電、顯示與半導體材料
顯示材料、紅外感測元件與半導體材料的穿透及反射分析。
透明與半透明材料
聚合物、陶瓷、紙材與技術紡織品的總穿透、總反射與漫反射量測。
高吸光度與低穿透率材料
高光學密度、低透射率樣品與光學防護材料的光譜量測。