FTIR / FT-NIR Technology Platform

FTIR/NIR 光譜儀完整解決方案

SmarTeam 翰揚貿易股份有限公司創立於 1994 年，以光譜儀相關產品起家，深耕光譜分析領域超過三十年，提供完整 FTIR / FT-NIR 主機平台、各類採樣附件、in-situ 系統與耗材整合方案。

PerkinElmer FTIR / FT-NIR 主機

從研究型平台到 routine lab 配置，對應多元光譜工作流程。

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ABB FTIR / FT-NIR 主機

適合工業與研究場域的紅外分析平台與程序整合需求。

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FTIR/NIR 附件與耗材

ATR、Transmission、DRIFTS、Gas Cell、紅外光學材料與 KBr 製樣工具。

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Sampling Technologies

FTIR / 光譜附件主分類

ATR 衰減全反射附件

適用於固體、粉末、液體、薄膜與晶圓表面量測，可依晶體材質、溫控條件與樣品接觸方式選擇合適 ATR 附件。

Diamond ATR ZnSe / Ge Heated ATR Wafer / Film

Transmission 穿透式量測附件

以固定或可調光徑讓紅外光穿透樣品，常見於液體樣品槽、固體薄膜、KBr pellet 與流通式 transmission cell。

Liquid Cells Pathlength Flow Cell Solid Holder

Gas Cell 氣體樣品槽

對應短光徑、長光徑、加熱氣體槽與 TGA-FTIR 聯用等氣體吸收分析需求，適合從高濃度到低濃度氣體量測。

Short Path Long Path Heated Gas TGA-FTIR

DRIFTS / 漫反射附件

適用於粉末、觸媒、高比表面材料與粗糙表面量測；in-situ 反應腔可作為 DRIFTS 的延伸配置。

Powder Catalyst Diffuse Reflectance In-situ DRIFTS

鏡面反射 / 外反射附件

針對真正的 specular / external reflection 與掠角反射配置，適合金屬、半導體基板與表面反射條件評估。

Specular External Reflection Grazing Angle Surface Film

溫控 / in-situ / 反應環境附件

依溫度、氣氛、真空、反應氣體與顯微量測條件選擇，作為 ATR、Transmission、DRIFTS 或顯微光譜的交叉入口。

Heating Cell Dewar Reaction Chamber Controlled Atmosphere

Raman 高溫反應附件

Raman 屬於拉曼散射光譜，與 FTIR 原理平行；若需要高溫、真空或受控氣氛 Raman 反應研究，可獨立評估。

Raman Scattering High Vacuum High Temperature Dynamic Flow

特殊光學與光路控制附件

處理偏振、角度、顯微量測、薄膜干涉與特殊光學條件，適合作為 ATR、Transmission 或反射之外的進階光學配置入口。

Polarizer Brewster Angle RotatIR Microscope Stage
Consumables & Sample Preparation

FTIR 耗材與製樣工具

鹽片、窗片與紅外光學材料

NaCl、KBr、CaF2、ZnSe、BaF2、Ge、KRS-5 等視窗與紅外光學材料，需依光譜範圍、含水條件、尺寸與既有 cell 確認。

NaCl / KBr ZnSe CaF2 Replacement Windows

KBr 粉末、校正膜與 sample cards

KBr powder、polystyrene calibration film、IR sample cards、Econo cards 等，屬於日常製樣與光譜確認的耗材型品項。

KBr Powder Polystyrene Film IR Cards Econo Cards

Spacers、gaskets、O-rings 與替換備品

液體槽、氣體槽、ATR cell 與溫控附件常會需要 spacer、gasket、O-ring、seal、replacement parts 來維持光徑與密封性。

Pathlength PTFE Spacer Viton / Kalrez Replacement Parts

KBr 壓片、press 與 die sets

Press、die set、KBr die、hand press、hydraulic press 會影響 pellet 品質、壓力重現性與日常製樣速度。

KBr Die Hand Press Hydraulic Press Pellet

拋光、研磨與樣品前處理工具

拋光組、研磨粉、agate mortar、sample grinder 等，可用於窗片維護、晶體表面處理或粉末樣品前處理。

Polishing Kit Agate Mortar Sample Grinder Crystal Care

軟體、圖譜資料庫與延伸光學配件

圖譜資料庫、TempLink、Polarizer 等不屬於典型消耗品，但可作為 FTIR 工作流程與特殊光學配置的延伸入口。

KnowItAll Sadtler TempLink Polarizer
Measurement & Sampling Guides

FTIR 量測與採樣指南

常見樣品採樣、附件選擇與量測失敗原因，協助判斷如何取得更穩定、可重複的 FTIR 光譜。

ATR 型號與晶體材質選擇指南

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  • 同樣是 ATR：差異可能來自 Diamond、ZnSe、Ge 晶體材質、反射次數、樣品接觸方式與壓力機構。
  • 特殊配置：加熱、高壓、流通、電化學、光化學與薄膜晶圓 ATR 需要同時確認實驗環境。
  • 避免誤判：薄膜或晶圓不一定只看 ATR，也可能需要鏡面反射、掠角反射或變角反射。
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液體樣品槽、spacer 與 pathlength 選擇指南

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  • 先看樣品條件：含水、揮發性、酸鹼、溶劑、濃度與定量需求會影響 cell 型式。
  • 光徑與窗片：pathlength、spacer、NaCl / KBr / CaF2 / ZnSe 等材質需一起確認。
  • 配置方向：可拆式、密封式、流通式與微量液體配置，對應不同清潔、重現性與反應需求。
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Gas Cell 氣體樣品槽選擇指南

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  • 濃度決定光程方向：高濃度可先看短光徑，ppm/ppb 等級通常需評估 long-path。
  • 加熱與氣路：冷凝、吸附、transfer line、接頭、壓力與流量會直接影響配置。
  • 定量穩定性：水氣、CO2、背景、purge 與流量穩定都會影響基線與定量結果。
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DRIFTS / 漫反射附件選擇指南

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  • 粉末與粗糙表面：DRIFTS 適合催化劑、礦物、土壤、粉末材料與無法做透明片的樣品。
  • 製樣影響很大：粒徑、稀釋、填裝密度與背景材料會影響散射與重現性。
  • 反應條件：高溫、真空、流通與氣固反應需求會和溫控 / in-situ 附件交叉。
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鏡面反射、外反射、薄膜與晶圓分析指南

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  • 薄膜不是單一分類：薄膜、晶圓與鍍層可能對應 ATR、鏡面反射、外反射、掠角或變角反射。
  • 先看表面與角度：基材反射率、表面平整度、膜厚、入射角與偏振條件會決定附件方向。
  • 交叉歸屬：同一產品可在 ATR 與反射分類同時出現，但應連回同一個產品頁。
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常見光譜問題：水氣、CO2、baseline 與吸收飽和

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  • 水氣與 CO2：背景與樣品量測期間的空氣差異會產生干擾，通常可透過 purge、縮短間隔與穩定樣品室環境改善。
  • baseline 傾斜：常見原因包含散射、樣品表面不平、打片顆粒過粗、附件未對正或接觸壓力不足。
  • 吸收飽和：若峰形被削平或吸光度過高，需調整光徑、稀釋樣品、降低膜厚，或改用更合適的 ATR / 反射配置。
FTIR / FT-NIR Platforms

FTIR/FT-NIR 主機解決方案

主機方案先放在分類與耗材入口之後，讓需要附件、耗材或料號詢價的客戶先分流；需要新主機或整套平台時，再進入 PerkinElmer 或 ABB 方案。

PerkinElmer logo

PerkinElmer FTIR / FT-NIR 解決方案

適合研究室、材料分析與日常實驗平台，能與多種採樣附件、光譜軟體與應用流程整合，是建立高彈性 FTIR 平台的常見選項。

  • 對應研究型與 routine lab 的 FTIR / FT-NIR 工作流程
  • 可延伸至 ATR、Transmission、Gas Cell 與 in-situ 配置
  • 適合教學、材料分析、聚合物與化學應用平台建立
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ABB FT-NIR 品牌標誌

ABB FT-IR / FT-NIR 解決方案

ABB FT-NIR / FT-IR 平台適合程序分析、光學整合與需要高重現性的工業研究場域。

  • 適合工業分析、研究整合與特定程序量測情境
  • 可搭配多種 FTIR 取樣技術進行客製化流程設計
  • 對應材料、半導體、化學與研究機構的分析需求
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Why SmarTeam

為什麼是 SmarTeam

從主機平台、採樣方式、樣品條件到 in-situ 量測需求協助研究者建立合適的 FTIR / FT-NIR 方案。

FTIR 整合能力

可依 ABB、PerkinElmer 與不同採樣附件搭配應用，協助規劃主機、光學路徑與配件整合方式。

主機與附件整合

從平台、視窗材料、光徑與路徑長配置，協助建立更完整的量測流程。

研究導向支援

從樣品型態、光譜範圍、溫度與氣氛條件，協助建立適合研究流程的分析應用。

in-situ 經驗與客製化能力

涵蓋 DRIFTS、加熱 ATR、反應腔、氣體槽與表面反射等應用，支援更進階的研究需求討論。

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