高 IR throughput
專利 MIRacle optical design 讓光束在小面積 ATR 上仍保有優異能量通量，可減少資料收集時間並得到高品質光譜。
At A Glance
產品特色
可換晶體板
Crystal plates 為 pinned-in-place 設計，可在無需重新 alignment 的前提下快速更換，讓同一平台切換不同應用。
多種晶體材質
支援 Diamond/ZnSe、Diamond/KRS-5、Ge、ZnSe、Si 等選項，可依樣品硬度、pH、波段與折射率需求選擇。
完整夾具系統
提供 high-pressure clamp、confined space clamp、micrometer clamp 與 digital force adapter，可因應不同施力條件與安裝空間需求。
溫控與應用擴充
可配置 heated plate、Peltier、liquid jacketed plate、flow-through attachment、sealed chamber 與 specular reflection plate。
Optical Design
光學與操作設計
兼顧 throughput、施力穩定性與更換效率
專利 MIRacle 光學路徑
在 MIRacle 設計中，ATR crystal 同時作為聚焦與取樣介面，可在小面積 ATR 架構下維持良好能量通量。此設計有助於縮短資料收集時間、提升光譜穩定性，並兼顧日常量測與研究型配置需求。
45°
名目入射角
1.8 mm
單反射表面尺寸
6.0 mm
3 / 9 反射表面尺寸
55 mm
ATR crystal 到壓力裝置的 sample access
依樣品型態選擇夾具配置
可依樣品型態與操作空間選擇 high-pressure clamp、confined space clamp 與 micrometer clamp。若需要更精準且可重現的施力條件，亦可搭配 digital force adapter 進行 load cell 讀值。
高壓日常取樣
受限空間取樣
低壓微調
可重現施力
Application Images
應用示例
不同晶體與反射次數會直接影響可量測樣品與光譜表現
硬質樣品與鑽石晶體
Faux black pearl 光譜可用於說明 diamond ATR crystal 的量測特性。Diamond 具備良好耐用性與耐刮特性，適合硬質樣品與常規固體分析配置。
多重反射提升靈敏度
Hydrogel 圖譜比較了 3-reflection diamond/ZnSe 與 single reflection diamond/ZnSe。對液體與柔軟樣品，多重反射板可提供更高靈敏度，是方法擴充的重要選項。
高折射率樣品選 Ge
黑色橡膠示例顯示 Ge crystal 在高折射率、碳黑填充或特定無機樣品上，可獲得較穩定的基線與較對稱的吸收峰，突顯 MIRacle 可更換晶體板配置的實用價值。
Crystal Choices
晶體比較
依樣品硬度、波段、折射率與化學條件配置
常用晶體板比較
| Diamond / ZnSe | 最通用的單反射選項，適合硬樣、酸鹼環境與大多數例行 ATR 分析。 |
| Diamond / KRS-5 | 當應用重視完整 mid-IR 波段時可考慮，兼具 diamond 的耐用性與更寬光譜覆蓋。 |
| Ge | 適合高折射率、碳黑橡膠與某些無機樣品，穿透深度較淺，可改善特定樣品的光譜型態；若規劃高溫量測，需留意 Ge 晶體於高於 90 °C 時會逐漸失去紅外光穿透性。 |
| ZnSe | 傳統通用型 ATR crystal，適合一般用途，但 pH 適用範圍較窄。 |
| Si | 適合 far-IR 量測需求，擴展 MIRacle 在特定光譜區段的應用能力。 |
| 3 / 9 Reflection Plates | 主要針對液體與柔軟樣品提升靈敏度，提供 flat 或 trough 形式。 |
若樣品類型涵蓋硬質固體、一般液體與特殊高折射率材料，可先以 Diamond/ZnSe 作為通用配置，再依波段或樣品特性評估是否增列 Ge 或 Si。若規劃高溫量測，則不建議選用 Ge 晶體。
應用提醒
樣品型態： 固體、液體、薄膜、橡膠、粉末還是聚合物。
是否需提高靈敏度： 液體或軟樣可優先評估 3 / 9 反射配置，以提升有效訊號表現。
是否有溫控需求： 需要加熱、冷卻或進行時間-溫度追蹤時，宜同步規劃 controller 與 plate。
化學與光譜條件： pH、波段範圍、折射率與樣品硬度都會影響 crystal choice。
溫控附件採用觸控式控制器，可搭配 PIKE TempPRO 軟體進行 profile 設定與資料收集，適合條件控制與研究型量測。
Specifications
主要規格
平台與量測規格
| ATR 晶體選項 (ATR Crystal Choices) | Diamond/ZnSe、Diamond/KRS-5、Ge、ZnSe、Si |
| 晶體板安裝方式 (Crystal Plate Mounting) | User-changeable plates |
| 晶體板座材質 (Plate Housing) | Stainless steel 或 Hastelloy |
| 入射角 (Angle of Incidence) | 45 degrees, nominal |
| 晶體尺寸 (Crystal Dimensions) | 1.8 mm 單反射；6.0 mm 三反射與九反射 |
| 施力裝置 (Pressure Device) | Rotating, continuously variable pressure；高壓夾具有 click-stop 機構 |
| 最大施壓能力 (Maximum Pressure) | 10,000 psi |
| 樣品操作空間 (Sample Access) | 55 mm，ATR crystal 到 pressure mount |
| 鏡面反射選配 (Specular Reflection Option) | Optional, 45 degree nominal angle |
| 吹掃密封配置 (Purge Sealing) | 附 purge tubes 與 purge line connector |
溫控、尺寸與相容性
| 加熱範圍 (Heating Options) | Ambient to 60 或 130 °C maximum |
| Peltier 溫控範圍 (Peltier Option) | Ambient to 10 或 90 °C maximum |
| 控制精度 (Accuracy) | 100 °C 以下 ±0.5°；100 °C 以上為 set point 的 ±0.5% |
| 感測器型式 (Sensor Type) | 3 wire Pt RTD（low drift, high stability） |
| 溫控系統 (Temperature Control) | Touch-panel display with USB interface，支援 PIKE TempPRO |
| 電源輸入 (Input) | 100–240 VAC，自動切換，external power supply |
| 電源輸出 (Output) | 1.3 A / 24 VDC，30 W maximum |
| 附件尺寸 (Accessory Dimensions) | 104 x 103 x 210 mm（不含 FTIR baseplate 與 mount） |
| FTIR 相容性 (FTIR Compatibility) | Most FTIR systems，訂購時需指定 instrument model / type |
若規劃加熱、Peltier 或 liquid jacketed plate，宜同步確認樣品溫度區間、是否需要外接 circulator，以及後續是否需進行自動化溫控實驗。另請留意，Ge 晶體不適用於高溫量測配置。
Configurable Platform
延伸應用附件
支援條件控制、流通與密封配置
溫控附件
可選 heated plate、Peltier plate 與 liquid jacketed plate，適合需控制樣品溫度、降低液體黏度變化影響，或進行熱行為追蹤的量測配置。
Heating: Ambient to 60 或 130 °C maximum
Peltier: Ambient to 10 或 90 °C maximum
Control: 觸控控制器與 PIKE TempPRO 軟體
Digital Force Adapter
對於重視施力一致性的固體樣品分析，Digital Force Adapter 可提供更精準且可重現的 load control，有助於方法開發、跨人員操作一致性與標準化流程建立。
Readout: 外接 LCD 顯示 applied force
Use case: 建立可重現壓力條件
Note: 不適用加熱 plate 配置
流通與密封附件
可加入 flow-through attachment、liquids retainer / volatiles cover，以及 sealed sample chamber，將 MIRacle 從一般 ATR 延伸到液體、揮發物或敏感樣品環境控制分析。
Flow-through: 100 µL 流通附件
Sealed Clamp: 適合 toxic 或 chemically aggressive solids / powders
Purge: 內含 purge tubes 與 purge line connector