平板晶體板 Flat Plate
用於固體、聚合物與可貼合晶體的薄膜。晶體表面略高於板座，搭配壓持器，使樣品與晶體保持接觸。
- 可選材質
- ZnSe、Ge、AMTIR、Si、KRS-5
- 密封版本
- ZnSe Sealed、Ge Sealed
密封平板用於油類及其他低表面張力、非揮發性液體，晶體與板座之間以金屬墊片密封。
PIKE Technologies / ATR Accessory
PIKE HATR可更換晶體板的多重反射 ATR 附件
PIKE HATR 是安裝於 FTIR 樣品室的水平式 ATR 取樣附件，適合液體、糊狀物、聚合物與薄膜的成分分析。多重反射設計增加紅外光與樣品的作用次數，可用於低濃度成分分析及定量量測。
Crystal Plates
平板與槽型晶體板
槽型晶體板 Trough Plate
凹槽承接液體與糊狀樣品，樣品覆蓋晶體表面即可量測。軟粉末可搭配粉末壓持件，增加與晶體的接觸。
- 可選材質
- ZnSe、Ge、AMTIR、Si、KRS-5
- 揮發性樣品
- 搭配揮發罩，減少量測期間的樣品蒸發
45°、4 mm 厚晶體提供 10 次反射；2 mm 厚的 ZnSe 與 Ge 可提供 20 次反射。較薄晶體增加反射次數，也會降低整體光通量。
ATR Crystal Materials
晶體材質特性
| 材質 | 光譜範圍（cm⁻¹） | 相容 pH 值 |
|---|---|---|
| ZnSe | 20,000–630 | 5–9 |
| Ge | 5,500–780 | 1–14 |
| AMTIR | 11,000–630 | 1–9 |
| Si | 8,300–1,500 | 1–12 |
| KRS-5 | 17,900–400 | 5–8 |
氨與 EDTA 等錯合劑會侵蝕 ZnSe，須同時考量溶液成分。Si 在多重反射 HATR 中低於約 1500 cm⁻¹ 的吸收，會限制該波段的量測。
Temperature Control
溫控量測配置
比較材料升溫、冷卻過程的光譜，或在固定溫度下追蹤反應，可分別選用電阻加熱或液體夾套控溫配置。
配置詢問時請提供 FTIR 品牌與型號，以確認安裝底座、晶體板及溫控配件的搭配。