單點 MCT Detector
針對指定微區取得完整紅外光譜，用於單一異物、顆粒與局部材料的化學鑑別。
成像配置
陣列 MCT Detector
同時收集分析範圍內的光譜資訊，建立成分分布與材料差異的化學影像。
wideband MCT Detector
延伸 MCT 的量測範圍，對應需要較寬中紅外波段的分析。
NIR Detector
將顯微量測延伸至近紅外波段，搭配 Spectrum 3 FTIR／FT-NIR 配置使用。
多 Detector 架構可依量測形式、靈敏度與波段需求整合不同 Detector。
取樣方式
內建量測模式
顯微穿透
適合薄膜、薄片，或置於紅外透明基材上的微小樣品。
顯微反射
適合不易穿透的表面、塗層與微小異物。
擴充取樣配置
Auto-ATR
自動完成 ATR 晶體定位、樣品接觸與壓力控制，用於微小區域的 ATR 量測。
自適應影像與自動化工作流程
可見影像定位
雙相機搭配明場、暗場與混合照明，呈現樣品表面細節並定位分析區域。
非平整樣品成像
延伸景深與進階影像收集模式可處理起伏表面，減少為取得清楚影像所需的樣品前處理。
微粒與層狀材料流程
自動尋找微粒、最佳化孔徑，並搭配層狀材料量測演算法建立可重複的分析流程。
Spectrum IR 軟體
整合樣品探索、資料收集、分析與報告，並可將多個步驟串接成單次執行的方法。
應用方向
污染物與未知異物
從可見影像定位異常區域，再以單點光譜或化學成像進行材質鑑別。
微塑膠與微粒
辨識並繪製樣品基質中的微塑膠分布，建立顆粒位置與材料種類的對應。
藥品與配方材料
呈現有效成分或其他組成的均勻性與分布，分析錠劑與配方材料的微區差異。
包材、塗層與多層材料
分析聚合物配方與多層結構的均勻性、污染及劣化區域。