PerkinElmer Spectrum 3
MIR/NIR/FIR 紅外光譜儀

可根據應用需求選配光源、分光鏡、偵測器與擴充附件,透過軟體切換不同量測配置,打造高度客製化的研究級紅外光譜量測平台。

PerkinElmer Spectrum 3 MIR NIR FIR 紅外光譜儀基本主機

基本配置選擇

量測波段

Spectrum 3 NIR 近紅外光譜儀

以固定的近紅外光學配置進行粉末、顆粒、液體與包裝內樣品的快速非破壞量測。

主機配置
固定配置
NIR 近紅外
量測範圍
14,700–2,000 cm⁻¹(680–4,800 nm)
光源
鎢鹵素燈
分光鏡
CaF₂
Detector
NIR FR-DTGS
選配取樣附件
Spectrum 3 原廠編號取樣附件總覽
01固體/錠劑自動進樣器NIR

最多放置 30 個錠劑或粉末樣品,可進行穿透與反射量測。

03液體吸樣器NIR/MIR

自動吸取液體並完成槽體充填,搭配污染檢查功能減少連續量測誤差。

06NIRA 近紅外反射附件NIR

以反射或漫透射量測固體、粉末、膠體與包裝內樣品,無需將樣品取出容器。

07近紅外積分球NIR

以 InGaAs Detector 量測高散射固體的漫反射,也可進行漫透射量測。

09遠端液體探頭NIR

將探頭伸入反應容器,直接進行液體穿透量測。

10遠端固體探頭NIR

在距離主機最遠 10 公尺的位置量測粉末與固體。

11加熱式穿透模組 HTMMIR/NIR

將樣品加熱至設定溫度,進行中紅外或近紅外穿透量測;可搭配不同尺寸的樣品瓶與液體槽固定座。

12EGA 4000TG-IR

將熱重分析功能整合至 Spectrum 3 樣品室,直接分析樣品加熱時產生的氣體。

11 Spectrum 3 安裝加熱式穿透模組 HTM
12 Spectrum 3 搭配 EGA 4000 逸出氣體分析系統
進階擴充軟體
01
NIR 成像

將單點光譜延伸為近紅外化學影像,觀察樣品內成分分布。

02
定量分析模型

搭配 Spectrum Quant 建立多變量校正模型,進行成分定量。

Spectrum 3 MIR 中紅外光譜儀

涵蓋官能基與指紋區,可依一般材料分析、低波數延伸或較寬量測範圍選擇三種光學配置。

主機配置
標準配置
Ge-coated KBr 分光鏡(鍺鍍膜 KBr)
量測範圍
8,300–350 cm⁻¹
適用方向
一般材料鑑別、官能基與指紋區分析
低波數延伸
CsI
量測範圍
7,800–225 cm⁻¹
適用方向
延伸至較低波數的無機與材料研究
擴展範圍
XR
量測範圍
11,000–375 cm⁻¹
適用方向
向高波數延伸的寬範圍 MIR 量測
Detector
LiTaO₃ Detector、FR-DTGS Detector 或 MCT Detector
Detector 安裝
最多同時安裝兩種 Detector,由軟體切換
選配取樣附件
Spectrum 3 原廠編號取樣附件總覽
02漫反射附件MIR/FIR

量測粉末、粗糙表面與不易進行穿透量測的固體。

03液體吸樣器NIR/MIR

自動吸取液體並完成槽體充填,搭配污染檢查功能減少連續量測誤差。

04多次反射式 HATRMIR

平面晶體量測固體與粉末,溝槽式晶體量測液體與膠狀樣品。

05TG-IR 介面MIR

將熱分析產生的氣體送入 FTIR,分析分解與燃燒生成物。

08單次反射式 UATRMIR

直接量測固體、液體與粉末,並可依樣品選擇 Diamond、Ge 或 ZnSe 晶體。

11加熱式穿透模組 HTMMIR/NIR

將樣品加熱至設定溫度,進行中紅外或近紅外穿透量測;可搭配不同尺寸的樣品瓶與液體槽固定座。

12EGA 4000TG-IR

將熱重分析功能整合至 Spectrum 3 樣品室,直接分析樣品加熱時產生的氣體。

11 Spectrum 3 安裝加熱式穿透模組 HTM
12 Spectrum 3 搭配 EGA 4000 逸出氣體分析系統
進階擴充軟體
01
FastScan 高速掃描

在 16 cm⁻¹ 解析度下最高約每秒 100 次掃描,搭配 Spectrum 10 Timebase 進行快速反應量測。

02
紅外顯微與成像

連接 Spotlight Aurora-I 系統,分析微小異物、微區材料與成分分布。

03
外部光路

將紅外光導向低溫恆溫器、真空腔體或其他研究設備。

Spectrum 3 MIR/NIR 中紅外/近紅外光譜儀

在同一平台整合近紅外快速篩選與中紅外結構鑑別,兩套光學元件由軟體切換。

主機配置
NIR
近紅外配置
量測範圍
14,700–2,000 cm⁻¹
光源
鎢鹵素燈
分光鏡
CaF₂
Detector
NIR FR-DTGS
MIR
中紅外配置
量測範圍
8,300–350 cm⁻¹
光源
Downward-Looking 紅外光源
分光鏡
Ge-coated KBr 分光鏡(鍺鍍膜 KBr)
Detector
FR-DTGS Detector 或 MCT Detector
選配取樣附件
Spectrum 3 原廠編號取樣附件總覽
01固體/錠劑自動進樣器NIR

最多放置 30 個錠劑或粉末樣品,可進行穿透與反射量測。

02漫反射附件MIR

量測粉末、粗糙表面與不易進行穿透量測的固體。

03液體吸樣器NIR/MIR

自動吸取液體並完成槽體充填,搭配污染檢查功能減少連續量測誤差。

04多次反射式 HATRMIR

平面晶體量測固體與粉末,溝槽式晶體量測液體與膠狀樣品。

05TG-IR 介面MIR

將熱分析產生的氣體送入 FTIR,分析分解與燃燒生成物。

06NIRA 近紅外反射附件NIR

以反射或漫透射量測固體、粉末、膠體與包裝內樣品,無需將樣品取出容器。

07近紅外積分球NIR

以 InGaAs Detector 量測高散射固體的漫反射,也可進行漫透射量測。

08單次反射式 UATRMIR

直接量測固體、液體與粉末,並可依樣品選擇 Diamond、Ge 或 ZnSe 晶體。

09遠端液體探頭NIR

將探頭伸入反應容器,直接進行液體穿透量測。

10遠端固體探頭NIR

在距離主機最遠 10 公尺的位置量測粉末與固體。

11加熱式穿透模組 HTMMIR/NIR

將樣品加熱至設定溫度,進行中紅外或近紅外穿透量測;可搭配不同尺寸的樣品瓶與液體槽固定座。

12EGA 4000TG-IR

將熱重分析功能整合至 Spectrum 3 樣品室,直接分析樣品加熱時產生的氣體。

11 Spectrum 3 安裝加熱式穿透模組 HTM
12 Spectrum 3 搭配 EGA 4000 逸出氣體分析系統
進階擴充軟體
01
NIR 成像

觀察近紅外吸收與樣品內成分分布。

02
FastScan 高速掃描

在 MIR 模式記錄快速反應與時間變化。

03
紅外顯微與成像

在 MIR 模式進行微小異物、微區材料與化學影像分析。

Spectrum 3 MIR/FIR 中紅外/遠紅外光譜儀

從中紅外指紋區延伸至遠紅外低頻振動,兩組分光鏡與 Detector 由軟體切換。

主機配置
MIR
中紅外配置
量測範圍
8,300–350 cm⁻¹
分光鏡
Ge-coated KBr 分光鏡(鍺鍍膜 KBr)
Detector
FR-DTGS Detector 或 MCT Detector
FIR
遠紅外配置
量測範圍
700–30 cm⁻¹
分光鏡
遠紅外網格分光鏡
Detector
FIR FR-DTGS
選配取樣附件
Spectrum 3 原廠編號取樣附件總覽
02漫反射附件MIR/FIR

量測粉末與不易進行穿透量測的固體,實際低波數範圍依附件光學配置確認。

03液體吸樣器MIR

自動吸取液體並完成槽體充填,搭配污染檢查功能減少連續量測誤差。

04多次反射式 HATRMIR

平面晶體量測固體與粉末,溝槽式晶體量測液體與膠狀樣品。

05TG-IR 介面MIR

將熱分析產生的氣體送入 FTIR,分析分解與燃燒生成物。

08單次反射式 UATRMIR

直接量測固體、液體與粉末,並可依樣品選擇 Diamond、Ge 或 ZnSe 晶體。

11加熱式穿透模組 HTMMIR/NIR

將樣品加熱至設定溫度,進行中紅外或近紅外穿透量測;可搭配不同尺寸的樣品瓶與液體槽固定座。

12EGA 4000TG-IR

將熱重分析功能整合至 Spectrum 3 樣品室,直接分析樣品加熱時產生的氣體。

11 Spectrum 3 安裝加熱式穿透模組 HTM
12 Spectrum 3 搭配 EGA 4000 逸出氣體分析系統
進階擴充軟體
01
外部光路

連接低溫恆溫器、真空腔體與其他低頻材料研究設備。

02
FastScan 高速掃描

在 MIR 模式記錄快速反應與時間變化。

03
紅外顯微與成像

在 MIR 模式分析微小異物與微區材料。

Spectrum 3 NIR/MIR/FIR 三波段紅外光譜儀

以一套近中紅外光學配置搭配遠紅外配置,涵蓋快速篩選、結構鑑別與低頻材料研究。

主機配置
NIR/MIR
近中紅外配置
量測範圍
11,000–375 cm⁻¹
光源
Downward-Looking 紅外光源+鎢鹵素燈
分光鏡
Ge-coated KBr 分光鏡(鍺鍍膜 KBr)
Detector
NIR/MIR LiTaO₃ Detector 或 MCT Detector
FIR
遠紅外配置
量測範圍
700–30 cm⁻¹
分光鏡
遠紅外網格分光鏡
Detector
FIR FR-DTGS
選配取樣附件
Spectrum 3 原廠編號取樣附件總覽
01固體/錠劑自動進樣器NIR

最多放置 30 個錠劑或粉末樣品,可進行穿透與反射量測。

02漫反射附件MIR/FIR

量測粉末與不易進行穿透量測的固體,實際低波數範圍依附件光學配置確認。

03液體吸樣器NIR/MIR

自動吸取液體並完成槽體充填,搭配污染檢查功能減少連續量測誤差。

04多次反射式 HATRMIR

平面晶體量測固體與粉末,溝槽式晶體量測液體與膠狀樣品。

05TG-IR 介面MIR

將熱分析產生的氣體送入 FTIR,分析分解與燃燒生成物。

06NIRA 近紅外反射附件NIR

以反射或漫透射量測固體、粉末、膠體與包裝內樣品,無需將樣品取出容器。

07近紅外積分球NIR

以 InGaAs Detector 量測高散射固體的漫反射,也可進行漫透射量測。

08單次反射式 UATRMIR

直接量測固體、液體與粉末,並可依樣品選擇 Diamond、Ge 或 ZnSe 晶體。

09遠端液體探頭NIR

將探頭伸入反應容器,直接進行液體穿透量測。

10遠端固體探頭NIR

在距離主機最遠 10 公尺的位置量測粉末與固體。

11加熱式穿透模組 HTMMIR/NIR

將樣品加熱至設定溫度,進行中紅外或近紅外穿透量測;可搭配不同尺寸的樣品瓶與液體槽固定座。

12EGA 4000TG-IR

將熱重分析功能整合至 Spectrum 3 樣品室,直接分析樣品加熱時產生的氣體。

11 Spectrum 3 安裝加熱式穿透模組 HTM
12 Spectrum 3 搭配 EGA 4000 逸出氣體分析系統
進階擴充軟體
01
NIR 成像

觀察近紅外吸收與樣品內成分分布。

02
FastScan 高速掃描

在 MIR 模式記錄快速反應與時間變化。

03
紅外顯微與成像

在 MIR 模式分析微小異物與微區材料。

04
外部光路

連接低溫恆溫器、真空腔體與其他研究設備。