極簡操作
採用 slide plate mounting，相容各大廠牌 FTIR。Accessory 插入後即可開始量測，省去複雜的光路校正與調整流程，特別適合多人共用或需要快速輪替樣品的工作環境。
Feature Section
產品特點為常規分析與多樣樣品量測而設計
經濟實惠
墊片密封（Gasket-sealed）設計使 ZnSe 或 Ge 晶體更換簡單且成本可控，適合重視維護效率與配置彈性的常規品管單位與研究環境。
多合一設計
自帶 integral trough 容納液體，上方帶有 thumbscrew press 對固體粉末加壓，不需額外購買夾具即可處理液體、糊狀物與粉末樣品，讓樣品準備更直接。
Application Showcase
應用範例用真實光譜理解折射率、臨界角與官能基判讀
為何高折射率樣品推薦使用 Ge 晶體
以 acetanilide 為例，可直接比較 ZnSe 與 Ge 晶體的量測結果。對於折射率較高的樣品，若使用 ZnSe，當有效入射角接近臨界角時，較容易在特定波段出現色散偏移與倒峰等 dispersion artifacts。Ge 由於折射率更高，能讓 45° 光路保有更安全的臨界角餘裕，因此量測結果通常更穩定，也適合作為說明晶體材質選擇的重要比較範例。
這類比較有助於直接理解同一樣品在兩種晶體上的光譜差異，以及折射率與臨界角如何影響量測結果。
固定 45° 光路如何協助官能基判讀
AccessATR 採用穩定的固定 45° 光路與單次反射設計，有助於降低量測變因。可由 N-H stretch、C=O stretch、芳香環 C=C、C-Cl stretch 到 out-of-plane bending 等特徵峰，逐步建立官能基判讀邏輯。
這類安排有助於將重點集中在晶體材質如何影響光譜，以及如何由吸收峰判讀樣品結構。
Optical Path
固定 45° 光路設計快速建立穩定流程
單次反射光路示意
AccessATR 透過兩片平面鏡將 FTIR 光束導向 45° 三角晶體，再反射回偵測器。這樣的簡潔光路有助於降低導入門檻，適合作為常規量測與 ATR 入門配置。
導入建議
- 若需求以例行分析為主，ZnSe 通常是較經濟的起始配置。
- 若要示範高折射率樣品與 dispersion artifacts 差異，建議同步準備 Ge 晶體。
- 內建液體槽與固體加壓旋鈕可減少額外夾具需求，對常規分析與 QA/QC 配置更實用。
Technical Specs
技術規格表
| Incident Angle | Fixed 45° |
| Spectral Range | ZnSe: 20,000 cm⁻¹ - 550 cm⁻¹ Ge: 5,500 cm⁻¹ - 400 cm⁻¹ |
| Sampling Options | 內建液體槽、粉末/固體加壓旋鈕 |
| Crystal Options | ZnSe, Ge |
AccessATR 採用 gasket-sealed 晶體設計，兼顧良好 throughput 與簡化樣品前置處理流程。若使用場景包含高折射率樣品比較，建議同步準備 Ge 晶體作為對照配置。